具有缺陷測(cè)量功能的內(nèi)窺鏡產(chǎn)品哪種比較好呢？三維掃描測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡利用主動(dòng)掃描技術(shù)測(cè)量缺陷，例如：進(jìn)口內(nèi)窺鏡韋林 Mentor Viusal iQ 搭載的相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)，不僅無需頻繁更換鏡頭、3D表面輪廓有助于提升測(cè)量準(zhǔn)確度，而且不要求準(zhǔn)確對(duì)焦、具有MTD距離指示等，也是其顯著優(yōu)勢(shì)。本文重點(diǎn)介紹后兩點(diǎn)，其他內(nèi)容可以關(guān)注“相關(guān)推薦”部分。

三維掃描測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡的優(yōu)勢(shì)

1. 不要求準(zhǔn)確對(duì)焦，測(cè)量數(shù)據(jù)更可信。傳統(tǒng)雙物鏡立體測(cè)量技術(shù)通過在立體圖像中匹配像素的原理實(shí)施測(cè)量，左右兩個(gè)視圖中的光標(biāo)位置非常關(guān)鍵，它們應(yīng)該是同一個(gè)像素，這樣測(cè)量結(jié)果才有保證，因此，要求圖像對(duì)焦準(zhǔn)確。而三維掃描測(cè)量通過采集投影在平面上的結(jié)構(gòu)光條紋圖形，生成多個(gè)XYZ點(diǎn)，然后利用算法處理這些數(shù)據(jù)，生成全表面點(diǎn)云圖，即使在圖像對(duì)焦不準(zhǔn)確的情況下，仍然能生成可準(zhǔn)確測(cè)量的XYZ數(shù)據(jù)，測(cè)量數(shù)據(jù)更可信。

2. 內(nèi)窺鏡探頭至目標(biāo)的距離控制有保障。由于大部分測(cè)量技術(shù)都采用三角測(cè)量原理，隨著測(cè)量距離的增大，測(cè)量的準(zhǔn)確度會(huì)降低。因此，在測(cè)量時(shí)將內(nèi)窺鏡鏡頭靠近測(cè)量表面，這樣得到的測(cè)量結(jié)果通常比遠(yuǎn)離測(cè)量表面更加準(zhǔn)確，對(duì)于深度測(cè)量而言，尤其如此。但是探頭與目標(biāo)之間的距離把控，需要靠操作者的經(jīng)驗(yàn)，這就給缺陷測(cè)量帶來了一定的不確定性。三維掃描測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡提供了一個(gè)最大目標(biāo)距離（MTD）值，表示在某次測(cè)量中，從鏡頭到最遠(yuǎn)光標(biāo)所在視圖面的距離，便于操作者參考，而且當(dāng)MTD對(duì)于當(dāng)前測(cè)量類型和尺寸來說過大時(shí)，還會(huì)為操作者提供提示，通過良好的距離控制，實(shí)現(xiàn)更精準(zhǔn)的測(cè)量。

三維掃描測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡的使用注意事項(xiàng)

為了獲得高質(zhì)量的3D數(shù)據(jù)，三維掃描測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡要捕捉大量的圖像，因此在捕捉測(cè)量圖像的過程中盡可能保持鏡頭與被測(cè)表面的相對(duì)靜止，抖動(dòng)、晃動(dòng)或者過早地移開，都可能對(duì)檢測(cè)影像的捕捉以及高質(zhì)量3D數(shù)據(jù)的生成造成影響。

以上為您介紹了三維掃描測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡的優(yōu)勢(shì)與使用注意事項(xiàng)。在工業(yè)內(nèi)窺鏡檢測(cè)中，影響測(cè)量結(jié)果的還有觀察角度、表面狀況、反射等等多方面的因素，因此要根據(jù)實(shí)際情況選擇適宜的測(cè)量技術(shù)以及采用正確的操控方式。如果您有任何疑問，歡迎咨詢北京韋林意威特工業(yè)內(nèi)窺鏡有限公司（http://m.lcfnwdc.com）。

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